机读格式显示(MARC)

• 000 01089nam2 2200361 4500

• -01 __gzk5900217

• -09 __zyk0106723

• -98 __bm14

• -99 __tsg

• 001 0000106717

• 005 20041027151223.0

• 010 __ |a 7-121-00209-4 |d CNY88.00

• 100 0_ |a 20041008d2004 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 2_ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |A ke kao xing wu li |f 姚立真编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004

• 215 _0 |a 21,669页 |c 图 |d 24cm

• 225 _0 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 300 __

• 330 __ |a 全书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础；论述了失效的物理模型；介绍了元器件静电放电失效的原理和防护，元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。

• 410 __ |1 001002731731 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 461 _1 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 606 __ |a 可靠性

• 606 __ |a 电子元件 |x 可靠性

• 606 __ |a 电子元件

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 __ |4 编著 |a 姚立真 |A yao li zhen

• 801 __ |a CN |b ATSU |c 20050711

• 905 __ |a ASTU |d TN6/11

• 915 __ |d TN6 |b 319100-02 |e 11