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• 000 01249nam2 2200337 4500

• -01 __gzk0324131

• -09 __zyk0217575

• -98 __bm4

• -99 __tsg01

• 001 0000217550

• 005 20120912165041.5

• 010 __ |a 978-7-03-033004-8 |b 精装 |d CNY96.00

• 100 __ |a 20120305d2011 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 光电子器件微波封装和测试 |A Guang Dian Zi Qi Jian Wei Bo Feng Zhuang He Ce Shi |f 祝宁华著

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2011

• 215 __ |a 17, 433页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书

• 330 __ |a 本书内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术,光注入技术及其应用。

• 410 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 光电器件 |A Guang Dian Qi Jian |x 微波测量

• 606 0_ |a 光电器件 |A Guang Dian Qi Jian |x 微波技术 |x 封装工艺

• 690 __ |a TN15 |v 4

• 701 _0 |a 祝宁华 |A Zhu Ning Hua |4 著

• 801 _0 |a CN |b 安徽新华 |c 20120911

• 905 __ |a ASTU |d TN15/2

• 915 __ |d TN15 |e 2 |b 2074521