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• 010 __ |a 978-7-121-33485-6 |d CNY98.00

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• 200 1_ |a 电子元器件检验技术 |A dian zi yuan qi jian jian yan ji shu |i 测试部分 |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 王晓晗，罗宏伟编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a xi，382页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法，同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概况总结。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 461 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 517 1_ |a 测试部分 |A ce shi bu fen

• 606 0_ |a 电子元器件 |A dian zi yuan qi jian |x 测试技术

• 690 __ |a TN606 |v 5

• 701 _0 |a 王晓晗 |A Wang Xiaohan |4 编著

• 701 _0 |a 罗宏伟 |A Luo Hongwei |4 编著

• 712 02 |a 工业和信息化部电子第五研究所 |A Gong ye he xin xi hua bu dian zi di wu yan jiu suo |4 组编

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20190227

• 905 __ |a LIB |d TN606/18