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- 010 __ |a 978-7-111-52184-6 |d CNY59.90
- 100 __ |a 20160224d2016 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 |A na mi CMOSji cheng dian lu zhong de xiao yan chi que xian jian ce |f (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 |g 续海涛等译
- 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2016
- 215 __ |a xiii, 191页 |c 图 |d 24cm
- 225 2_ |a 国际信息个程先进技术译丛 |A guo ji xin xi ge cheng xian jin ji shu yi cong
- 306 __ |a 本书中文简体翻译版授权由机械工业出版社独家出版并限在中国大陆地区销售
- 320 __ |a 有书目 (第184-191页)
- 330 __ |a 本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG); 第2部分关于全速测试, 并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD; 第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案, 可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷; 第4部分介绍了SDD的测试标准, 以量化的指标来评估SDD覆盖率。本书内容由简入深, 对SDD测试全面展开, 有助于提高读者的理解和掌握。
- 461 _0 |1 2001 |a 国际信息个程先进技术译丛
- 500 10 |a Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |A Testing For Small-delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits |m Chinese
- 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x MOS集成电路 |x 缺陷检测
- 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao
- 606 0_ |a MOS集成电路 |A MOSji cheng dian lu
- 701 _1 |c (美) |a 戈埃尔 |A ge ai er |c (Goel, Sandeep K.) |4 主编
- 701 _1 |c (印) |a 查克拉巴蒂 |A cha ke la ba di |c (Chakrabarty, Krishnendu) |4 主编
- 702 _0 |a 续海涛 |A xu hai tao |4 译
- 801 _0 |a CN |b LIB |c 20170313
- 905 __ |a LIB |d TN432/17