机读格式显示(MARC)

• 000 01547nam 2200301 450

• 001 0000789469

• 005 20250708161200.0

• 010 __ |a 978-7-121-48818-4 |d CNY79.00

• 100 __ |a 20241109d2024 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子设备板级可靠性工程 |A dian zi she bei ban ji ke kao xing gong cheng |f 王文利编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2024.9

• 215 __ |a xv, 180页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 现代电子机械工程丛书 |A xian dai dian zi ji xie gong cheng cong shu

• 300 __ |a 国家出版基金项目

• 314 __ |a 王文利, 西安电子科技大学电子可靠性 (深圳) 研究中心主任, 工学博士, 博士后, 教授, 长期从事电子工艺及可靠性应用研究。国家科技部科技创新CEO特训营特聘导师, 广东省半导体及集成电路产业发展专家咨询委员会委员, 中国电子学会高级会员, 深圳市电子学会可靠性专委会副主任委员。

• 320 __ |a 有书目 (第177-180页)

• 330 __ |a 本书针对电子设备板级可靠性工程问题, 阐述了板级可靠性工程中需要开展的主要工作, 包括选择可靠的元器件、可靠地使用元器件、板级可靠性工程设计 (DFX)、板级组装工艺可靠性、单板常见失效模式及失效机理、板级可靠性试验与测试、板级失效分析等。通过选择可靠的元器件、开展可靠性设计、保障可靠性制造, 达到保证板级可靠性的目的, 同时, 针对板级可靠性要求进行试验和测试、针对板级失效做好失效分析。

• 333 __ |a 本书适用于电子设备可靠性学习者

• 410 _0 |1 2001 |a 现代电子机械工程丛书

• 606 0_ |a 电子设备 |A dian zi she bei |x 可靠性

• 690 __ |a TN02 |v 5

• 701 _0 |a 王文利 |A wang wen li |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20241109

• 905 __ |a LIB |d TN02/51