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• 010 __ |a 978-7-04-030092-5 |b 精装 |d CNY119.00

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• 101 0_ |a eng

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• 200 1_ |a 微观组织的分析电子显微学表征 |A Wei Guan Zu Zhi De Fen Xi Dian Zi Xian Wei Xue Biao Zheng |d =Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) |f Yonghua Rong |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2012

• 215 __ |a 552页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 材料科学与工程著作系列

• 314 __ |a 责任者Yonghua Rong规范译名: 戎咏华

• 320 __ |a 有书目 (第544页)和索引

• 330 __ |a 本书系统地介绍了分析电子显微学（AEM）的基本概念和操作技术，聚焦于相变和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射和晶体学的物理概念和数学分析方法，例如相变中位向关系的定量预测等。

• 410 _0 |1 2001 |a 材料科学与工程著作系列

• 510 1_ |a Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) |f Yonghua Rong |z eng

• 606 0_ |a 电子显微镜分析 |A Dian Zi Xian Wei Jing Fen Xi |x 研究生 |j 教学参考资料 |x 英文

• 690 __ |a O657.99 |v 4

• 701 _0 |a 戎咏华 |A Rong Yong Hua |4 著

• 801 _0 |a CN |b 安徽新华 |c 20120913

• 905 __ |a ASTU |d O657.99/5

• 915 __ |b 2074131 |d O657.99 |e 5 |f 1