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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件失效分析与典型案例 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Shi Xiao Fen Xi Yu Dian Xing An Li |f 孔学东, 恩云飞主编 |e |d

• 205 __ |a

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a 260页 |c 图 |d 26cm

• 225 __ |a

• 330 __ |a 本书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件等。

• 333 __ |a 失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产单位的工程技术人员，高等学校半导体器件专业师生

• 606 __ |a 电子元件 |A Dian Zi Yuan Jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN601 |v 4

• 701 __ |a 孔学东 |A Kong Xue Dong |4 主编

• 701 __ |a 恩云飞 |A En Yun Fei |4 主编

• 801 __ |a CN |b ATSU |c 20070514 |U 胡凤

• 905 __ |a ASTU |d TN601/1

• 915 __ |b 566980-81 |d TN601 |e 1 |a