机读格式显示(MARC)
- 010 __ |a 978-7-5612-4253-7 |d 30
- 100 __ |a 20150323d2015 ekmy0chiy50 ea
- 200 __ |a Lattice可编程器件测试技术 |A Lattice Ke Bian Cheng Qi Jian Ce Shi Ji Shu |f 吴丹,石坚,周红著
- 210 __ |a 西安 |c 西北工业大学出版社 |d 2015.01
- 330 __ |a 本书从工程实际应用出发,对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。
- 606 __ |a 电子计算机工业 |A Dian Zi Ji Suan Ji Gong Ye
- 801 _0 |a CN |b LIB |c 20160221