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- 000 01053nam0 2200229 450
- 010 __ |a 978-7-5487-5537-1 |d CNY42.00
- 100 __ |a 20240726d2024 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究 |A gao guan tuan dui feng xian pian hao dui ji shu chuang xin shi bai qi ye zai chuang xin ying xiang ji li yan jiu |f 张洋著
- 210 __ |a 长沙 |c 中南大学出版社 |d 2024
- 215 __ |a 233页 |c 图 |d 21cm
- 330 __ |a 本书从个人和企业两个层面选取15个指标,构建高管团队风险偏好综合测度指标体系,建构了高管团队风险偏好综合测度模型,分析了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新行为的影响效应,探讨了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新绩效的影响效应,揭示了失败再创新行为在高管团队风险偏好与失败再创新绩效间的中介效应。
- 606 0_ |a 风险管理 |A Feng Xian Guan Li |x 影响 |x 企业创新 |x 研究
- 701 _0 |a 张洋 |A zhang yang |4 著
- 801 _0 |a CN |b 辽批 |c 20240726
- 905 __ |a LIB |d F273.1/170