机读格式显示(MARC)

• 000 01587nam 2200349 450

• 001 0000532800

• 005 20200913100400.0

• 010 __ |a 978-7-04-052413-0 |b 精装 |d CNY129.00

• 100 __ |a 20191126d2019 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a afk a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 透射电子显微学 |A tou she dian zi xian wei xue |d = Transmission electron microscopy |h 下册 |f D.B. 威廉斯(David B. Williams), C.B. 卡特(C. Barry Carter)著 |g 李建奇等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2019

• 215 __ |a [48], 649页, [30] 页图版 |c 图 (部分彩图) |d 25cm

• 225 2_ |a 材料科学经典著作选译 |A cai liao ke xue jing dian zhu zuo xuan yi

• 305 __ |a 译自原书第2版

• 314 __ |a 责任者Williams规范汉译姓: 威廉斯; 责任者Carter规范汉译姓: 卡特

• 314 __ |a 李建奇, 中国科学院物理研究所研究员, 博士生导师。

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书介绍了成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术, 以及对实验图像的处理、分析和理论模拟, 还介绍了X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用, 以及与之相关的各种实验技术。

• 461 _0 |1 2001 |a 材料科学经典著作选译

• 500 10 |a Transmission electron microscopy : a textbook for materials science |A Transmission Electron Microscopy : A Textbook For Materials Science |m Chinese

• 606 0_ |a 透射电子显微术 |A tou she dian zi xian wei shu |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a O766 |v 5

• 690 __ |a O7 |v 4

• 701 _1 |a 威廉斯 |A wei lian si |c (Williams, David B.) |4 著

• 701 _1 |a 卡特 |A ka te |c (Carter, C. Barry) |4 著

• 702 _0 |a 李建奇 |A li jian qi |4 译

• 801 _0 |a CN |b LIB |c 20200913

• 905 __ |a LIB |d O7/26:2