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• 010 __ |a 978-7-121-27230-1 |d CNY98.00

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• 200 1_ |a 电子元器件失效分析技术 |A dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 恩云飞, 来萍, 李少平编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a xix, 453页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 330 __ |a 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作, 并了解失效预防的一些基本方法和手段。

• 461 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 失效分析

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 失效分析

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian

• 690 __ |a TN606 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 来萍 |A lai ping |4 编著

• 701 _0 |a 李少平 |A li shao ping |4 编著

• 712 01 |a 中国 |A zhong guo |b 工业和信息化部 |B gong ye he xin xi hua bu |b 电子第五研究所 |4 组编

• 801 _0 |a CN |b LIB |c 20170312

• 905 __ |a LIB |d TN606/15