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• 200 1_ |a VLSI测试方法学和可测性设计 |A VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |f 雷绍充, 邵志标, 梁峰著 |F lei shao chong,shao zhi biao,liang feng zhu

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005

• 215 _0 |a ix, 286页 |c 图 |d 26cm

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• 320 __ |a 有书目。

• 330 __ |a 本书内容包括数字逻辑基础、组合逻辑电路、触发器、时序逻辑电路、脉冲产生整形电路、半导体存储器、可编程逻辑器件等方面。

• 461 _1 |1 2001

• 606 __ |a 超大规模集成电路 |x 测试技术

• 606 __ |a 超大规模集成电路 |x 测试 |x 设计

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 __ |4 著 |a 梁峰 |A liang feng

• 701 __ |4 著 |a 邵志标 |A shao zhi biao

• 701 __ |4 著 |a 雷绍充 |A lei shao chong

• 801 __ |a CN |b ATTC |c 20050516

• 905 __ |a ASTU |d TN47/3

• 915 __ |d TN47 |e 3 |b 307691-5