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• 010 __ |a 978-7-111-29641-6 |d CNY98.00

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• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 全面的功能验证 |9 quan mian de gong neng yan zheng |e 完整的工业流程 |f (美)威立(Bruce Wile), 高斯(John C. Goss), 罗斯纳(Wolfgang Roesner)著 |g 沈海华, 乐翔译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2010

• 215 __ |a xxi, 487页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息工程先进技术译丛 |9 guo ji xin xi gong cheng xian jin ji shu yi cong

• 306 __ |a 本书中文简体字翻译版由机械工业出版社与Elsevier (Singapore) Pte Ltd.在中国大陆境内合作出版

• 312 __ |a 英文题名原文取自封面

• 314 __ |a 责任者Wile规范汉译姓: 威立; 责任者Goss规范汉译姓: 高斯; 责任者Roesner规范汉译姓: 罗斯纳

• 320 __ |a 有书目 (第482-487页)

• 330 __ |a 本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念, 以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元, 关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。

• 461 _0 |1 2001 |a 国际信息工程先进技术译丛

• 500 10 |a Comprehensive functional verification : the complete industry cycle |m Chinese

• 517 1_ |a 完整的工业流程 |9 wan zheng de gong ye liu cheng

• 606 0_ |a 集成电路 |9 ji cheng dian lu |x 芯片 |x 设计

• 606 0_ |a 集成电路 |9 ji cheng dian lu

• 606 0_ |a 芯片 |9 xin pian

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _1 |c (美) |a 威立 |9 wei li |c (Wile, Bruce) |4 著

• 701 _1 |c (美) |a 高斯 |9 gao si |c (Goss, John C.) |4 著

• 701 _1 |c (美) |a 罗斯纳 |9 luo si na |c (Roesner, Wolfgang) |4 著

• 702 _0 |a 沈海华 |9 shen hai hua |4 译

• 702 _0 |a 乐翔 |9 le xiang |4 译

• 801 __ |c 20101026

• 905 __ |a ASTU |d TN402/10

• 915 __ |a ASTU |d TN402 |e 10 |b 1701374-5