机读格式显示(MARC)

• 000 01334nam2 2200361 4500

• -01 __gzk0319014

• -09 __zyk0202921

• -98 __bm4

• -99 __tsg01

• 001 0000202896

• 005 20101201090001.5

• 010 __ |a 978-7-03-027036-8 |b 精装 |d CNY78.00

• 100 __ |a 20100511d2010 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体材料测试与分析 |9 ban dao ti cai liao ce shi yu fen xi |f 杨德仁等著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a xi, 381页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |9 ban dao ti ke xue yu ji shu cong shu

• 306 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术, 涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容: 包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。

• 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 半导体材料 |9 ban dao ti cai liao |x 测试

• 606 0_ |a 半导体材料 |9 ban dao ti cai liao |x 分析

• 606 0_ |a 半导体材料 |9 ban dao ti cai liao

• 690 __ |a TN304.07 |v 4

• 701 _0 |a 杨德仁 |9 yang de ren |4 著

• 801 __ |c 20101118

• 905 __ |a ASTU |d TN304.07/1

• 915 __ |a ASTU |d TN304.07 |e 1 |b 1705077-8