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• 010 __ |a 978-7-5767-0541-6 |b 精装 |d CNY98.00

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• 200 1_ |a 宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践 |A yu hang MOSFET qi jian dan li zi fu she jia gu ji shu yu shi jian |d Single event effect hardening technique and practice on aerospace power mosfets |f 付晓君[等]编著 |z eng

• 210 __ |a 哈尔滨 |c 哈尔滨工业大学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 250页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

• 330 __ |a 本书共6章，主要内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航MOSFET器件的空间辐射效应及损伤模型、宇航MOSFET器件抗单粒子辐射加固技术、宇航MOSFET器件测试技术与辐照试验，并以一款宇航VDMOS器件为实例，详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节，最后介绍宇航MOSFET器件的应用及发展趋势。

• 510 1_ |a Single event effect hardening technique and practice on aerospace power mosfets |z eng

• 606 0_ |a 功率MOSFET |x 辐射防护 |x 研究

• 690 __ |a TN323 |v 5

• 701 _0 |a 付晓君 |A fu xiao jun |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 辽批 |c 20231105