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• 000 01897nam0 2200337 450

• -01 /192.0.2.136/Calis保存库/记录索引号/1259749

• 000 01835nam0 2200313 450

• 001 0000559855

• 010 __ |a 978-7-118-12317-3 |b 精装 |d CNY198.00

• 100 __ |a 20210826d2021 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c gre |c cze

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 固体薄膜的光学表征 |A gu ti bao mo de guang xue biao zheng |f (德) 奥拉夫·斯坦泽尔, (捷克) 米洛斯拉夫·奥里达尔主编 |d = Optical characterization of thin solid films |f Olaf Stenzel, Miloslav Ohlidal |g 刘华松, 刘丹丹等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2021

• 215 __ |a 393页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 装备科技译著出版基金

• 305 __ |a 译自原书第2版

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书的主要内容包括：第一部分为引论与建模(包括：引论，光学和非光学相互结合的方法表征多孔氧化锆样品，宽光谱区薄膜表征的通用色散模型，从头计算预测光学特性)；第二部分为分光光度法和椭圆偏振光谱法(包括：薄膜的反射光谱成像法光学表征，成像分光光度法的数据处理方法，单层膜与多层膜的在线和离线分光光度法)；第三部分为缺陷和波纹的薄膜表征(包括：缺陷薄膜的光学表征，光学薄膜的扫描探针显微技术表征，共振波导光栅结构，深紫外线栅偏振片的偏振控制)。全书既讨论了表征技术的优点也没有规避表征技术的缺点。本书对于固体薄膜技术领域内的应用基础研究和工程技术研究具有重要的参考价值，适合从事薄膜技术研究和应用领域的工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和使用，参与固体薄膜表征任务的科学家或工程师都能从本书中获益。

• 333 __ |a 相关研究人员

• 500 10 |a Optical characterization of thin solid films |m Chinese

• 606 0_ |a 薄膜 |A bao mo |x 光学性质

• 690 __ |a O484.4-1 |v 5

• 701 _1 |a 斯坦泽尔 |A si tan ze er |g (Stenzel, Olaf) |4 主编

• 701 _1 |a 奥里达尔 |A ao li da er |g (Ohlidal, Miloslav) |4 主编

• 702 _0 |a 刘华松 |A liu hua song |4 译

• 702 _0 |a 刘丹丹 |A liu dan dan |4 译

• 801 _0 |a CN |b 安徽时代 |c 20210826

• 905 __ |d O484.4-1 |f 3