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• 010 __ |a 978-7-03-027894-4 |b 精装 |d CNY58.00

• 100 __ |a 20111116d2010 km y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路测试优化 |A shu zi ji cheng dian lu ce shi you hua |e 测试压缩、测试功耗优化、测试调度 |f 李晓维[等]著 |F li xiao wei[deng]zhu

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010.06

• 215 __ |a xi,344页 |d 25cm

• 225 2_ |a 集成电路EDA技术丛书 |A ji cheng dian lu EDA ji shu cong shu

• 304 __ |a 责任者还有:韩银和、韩瑜、李佳

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度，包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构，测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化，测试压缩与测试功耗协同优化方法，测试压缩与测试调度协同优化方法，并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。

• 333 __ |a 集成电路设计和测试开发及应用科技人员，集成电路与半导体专业高等院校教师、研究生和高年级本科生

• 461 _0 |1 2001 |a 集成电路EDA技术丛书

• 517 1_ |a 测试压缩 测试功耗优化 测试调度 |A ce shi ya suo ce shi gong hao you hua ce shi diao du

• 606 0_ |a 数字集成电路 |x 测试技术

• 606 0_ |a 数字集成电路

• 606 0_ |a 测试技术

• 690 __ |a TN79 |v 4

• 701 _0 |a 李晓维 |A li xiao wei |4 著

• 701 _0 |a 韩银和 |A han yin he |4 著

• 701 _0 |a 韩瑜 |A han yu |4 著

• 801 _0 |a CN |b 时代出版发行 |c 20111116

• 905 __ |a ASTU |d TN79/119

• 915 __ |b 2060712-3 |d TN79 |e 119 |f 2