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• 000 01590nam 2200313 450

• 001 0000791119

• 005 20250617195900.0

• 010 __ |a 978-7-5767-0540-9 |b 精装 |d CNY128.00

• 100 __ |a 20230916d2023 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 230000

• 105 __ |a ak a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子学系统辐射效应与加固技术 |A dian zi xue xi tong fu she xiao ying yu jia gu ji shu |d = Radiation effects and hardening techniques of electronic systems |f 许献国, 曾超著 |z eng

• 210 __ |a 哈尔滨 |c 哈尔滨工业大学出版社 |d 2023.5

• 215 __ |a 390页 |c 图 (部分彩图) |d 25cm

• 225 2_ |a 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |A cai liao yu qi jian fu she xiao ying ji jia gu ji shu yan jiu zhu zuo

• 300 __ |a 国家出版基金资助项目 国家出版基金项目

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书从辐射损伤机理和抗辐射加固实践出发, 系统全面地介绍了中子、光子、带电粒子等与电子学系统的金属、半导体、绝缘材料的相互作用, 半导体敏感结构辐射感生缺陷的空间和时间多尺度演化机制, 半导体器件、集成电路的辐射效应规律, 电子学系统的辐射屏蔽、元器件筛选、器件工艺加固、电路设计加固以及系统总体加固技术, 辐射效应多尺度、多物理高确信建模和仿真方法, 系统的抗辐射加固裕度和不确定的量化评估先进方法等。

• 333 __ |a 本书适用于辐射效应研究人员

• 410 _0 |1 2001 |a 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

• 510 1_ |a Radiation effects and hardening techniques of electronic systems |z eng

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 辐射效应 |x 研究

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 许献国 |A xu xian guo |4 著

• 701 _0 |a 曾超 |A zeng chao |4 著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20230916

• 905 __ |a LIB |d TN6/7