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• 010 __ |a 978-7-5607-6952-3 |d CNY26.00

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• 200 1_ |a 半导体物理与器件实验教程 |A ban dao ti wu li yu qi jian shi yan jiao cheng |d Experimental course of semiconductor physics and devices |f 计峰主编 |z eng

• 210 __ |a 济南 |c 山东大学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 129页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 集成电路科学与工程类新工科系列教材

• 330 __ |a 本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两篇。半导体物理实验包括单晶硅的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型的测定、四探针法测量半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导衰减法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS管的C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。半导体器件实验包括发光二极管特性参数测量、稳压二极管特性参数测量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻的测量等十个实验。

• 510 1_ |a Experimental course of semiconductor physics and devices |z eng

• 606 0_ |a 半导体物理 |A Ban Dao Ti Wu Li |x 实验

• 606 0_ |a 半导体器件 |A Ban Dao Ti Qi Jian |x 实验

• 690 __ |a O47 |v 5

• 690 __ |a TN303-33 |v 5

• 701 _0 |a 计峰 |A ji feng |4 主编

• 801 _0 |b 辽批

• 905 __ |a LIB |d O47/31