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• 200 1_ |a 可靠性试验 |A ke kao xing shi yan |f 刘明治编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004

• 215 _0 |a 332页 |d 24cm

• 225 _0 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

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• 330 __ |a 本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念基础上，介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序等。

• 410 __ |1 001002731731 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 461 _1 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 606 __ |a 可靠性

• 606 __ |a 电子元件 |x 可靠性 |x 试验

• 606 __ |a 电子元件

• 690 __ |a TN606 |v 4

• 701 __ |4 编著 |a 刘明治 |A liu ming zhi

• 801 __ |a CN |b NLC |c 20050711

• 905 __ |a ASTU |d TN606/1

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