机读格式显示(MARC)

• 000 00868nam0 2200253 450

• 001 0000685008

• 005 20240531202200.0

• 010 __ |a 978-7-5770-0163-0 |d CNY68.00

• 100 __ |a 20230804d2023 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 510000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试原理 |A ji cheng dian lu ce shi yuan li |f 戴志坚，王厚军主编

• 210 __ |a 成都 |c 电子科技大学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 204页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 本科规划教材

• 330 __ |a 本书共六章，内容包括：集成电路测试技术概述，直流参数及模拟集成电路测试，数字集成电路测试，混合信号集成电路测试，ATE系统和DIB设计，测试应用开发。

• 606 0_ |a 集成电路 |x 电路测试 |x 高等教育 |j 教材

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 戴志坚 |A dai zhi jian |f (1968-) |4 主编

• 701 _0 |a 王厚军 |A wang hou jun |f (1961-) |4 主编

• 801 _0 |a CN |b LIB |c 20240531

• 905 __ |a LIB |d TN407/6