机读格式显示(MARC)

• 000 01156nam2 2200361 4500

• -01 __gzk0706821

• -09 __zyk0157225

• -98 __bm8

• -99 __tsg

• 001 0000157210

• 005 20070511085946.5

• 010 __ |a 7-5025-8131-6 |d CNY95.00 |b

• 094 __ |a

• 100 __ |a 20060615d2006 em y0chiy0121 ea

• 101 __ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 现代集成电路测试技术 |A Xian Dai Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Shu |f 《现代集成电路测试技术》编写组 |e |d

• 205 __ |a

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a 540页 |c 图 |d 26cm

• 225 __ |a

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书接集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下两篇，根据现代集成电路测试技术发燕尾服和专业测试需求进行介绍。

• 333 __ |a 从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员等。

• 606 __ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 测试

• 690 __ |a TN407 |v 4

• 701 __ |a 《现代集成电路测试技术》编写组

• 711 __ |a 现代集成电路测试技术编写组 |A Xian Dai Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Shu Bian Xie Zu |4 编

• 801 __ |a CN |b ASTU |c 20070511 |U 陈佳莹

• 905 __ |a ASTU |d TN407/1

• 915 __ |b 566982-4 |d TN407 |e 1 |a 安徽科技学院