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• 010 __ |a 978-7-121-28197-6 |d CNY79.00

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 空间单粒子效应 |A Kong Jian Shan Li Zi Xiao Ying |d Single event effects in aerospace |e 影响航天电子系统的危险因素 |f (美)Edward Petersen著 |g 韩郑生[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2016

• 215 __ |a 11,303页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国防电子信息技术丛书 |A Guo Fang Dian Zi Xin Xi Ji Shu Cong Shu

• 304 __ |a 译者还有：沈自才，丁义刚，赵发展

• 305 __ |a 由美国John Wiley & Sons, Inc.公司授权出版

• 330 __ |a 本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

• 461 _0 |1 2001 |a 国防电子信息技术丛书

• 510 1_ |a Single event effects in aerospace |z eng

• 517 1_ |a 影响航天电子系统的危险因素 |A Ying Xiang Hang Tian Dian Zi Xi Tong De Wei Xian Yin Su

• 606 0_ |a 单粒子态 |A Shan Li Zi Tai

• 690 __ |a O571.2 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 彼得森 |A Bi De Sen |c (Petersen, Edward) |4 著

• 702 _0 |a 韩郑生 |A Han Zheng Sheng |4 译

• 801 _0 |a CN |b LIB |c 20180322

• 905 __ |a LIB |d O571.2/2