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• 000 01316nam2 2200397 4500

• -01 __gzk0703349

• -09 __zyk0143323

• -98 __bm8

• -99 __tsg

• 001 0000143310

• 005 20061204111323.5

• 010 __ |a 7-302-13063-9 |d CNY24.00 |b

• 094 __ |a

• 100 __ |a 20061028d2006 km y0chiy0120 ea

• 101 __ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 微纳米测量技术 |9 wei na mi ce liang ji shu |d = Metrology for micro-and nanotechnology |f 王伯雄, 陈非凡, 董瑛编著 |z eng |e

• 205 __ |a

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2006

• 215 __ |a 223页 |c 图 |d 23cm

• 225 __ |a 清华大学微机电系统工程系列教材

• 320 __ |a 有书目 (第221-223页)

• 330 __ |a 本书共分4章，内容包括：微纳米测量技术的意义、特点和研究的内容；微型传感器的工作原理及其典型应用；微型纳米测量技术中的光学方法，光学测量系统的结构及应用等。

• 461 __ |1 2001 |a 清华大学微机电系统工程系列教材

• 510 __ |a Metrology for micro-and nanotechnology |z eng

• 606 __ |a 纳米材料 |x 测量技术 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TB383-43 |v 4

• 690 __ |a P2-43 |v 4

• 701 __ |a 陈非凡 |9 chen fei fan |4 编著

• 701 __ |a 董瑛 |9 dong ying |4 编著

• 701 __ |a 王伯雄 |9 wang bo xiong |4 编著

• 801 __ |a CN |b RULIN |c 20061204

• 905 __ |a ASTU |d TB383-43/1

• 915 __ |d TB383-43 |b 471844-8 |e 1 |a 安徽科技学院