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• 010 __ |a 978-7-111-63407-2 |d CNY59.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测 |A IGBTpi lao shi xiao ji li ji qi jian kang zhuang tai jian ce |f 肖飞 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 232页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 题名页题其余编著者：刘宾礼, 罗毅飞, 黄永乐

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。

• 333 __ |a 本书可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书，也可作为电力电子与电力传动专业的本科生、硕士和博士研究生，以及从事电力电子器件方面研究的师生与研究人员的参考书。

• 606 0_ |a 绝缘栅场效应晶体管 |A jue yuan shan chang xiao ying jing ti guan |x 疲劳机理 |x 监测

• 690 __ |a TN386.2 |v 5

• 701 _0 |a 肖飞 |A xiao fei |4 编著

• 701 _0 |a 刘宾礼 |A liu bin li |4 编著

• 701 _0 |a 罗毅飞 |A luo yi fei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20191122

• 905 __ |a LIB |d TN386.2/7