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• 005 20171123194200.0

• 010 __ |a 978-7-121-27232-5 |d CNY88.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |A ke kao xing wu li |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a xvi, 426页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章, 前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型, 后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。

• 461 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性 |x 研究

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 可靠性 |x 研究

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 谢少锋 |A xie shao feng |4 编著

• 701 _0 |a 何小琦 |A he xiao qi |4 编著

• 712 01 |a 中国 |A zhong guo |b 工业和信息化部 |B gong ye he xin xi hua bu |b 电子第五研究所 |4 组编

• 801 _0 |a CN |b LIB |c 20170313

• 905 __ |a LIB |d TN6/48