| 暂存书架(0) | 登录

检索到 1 条 题名=Characterization methods for radiation induced defects in semiconductor materials and devices 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 中文图书1.半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法 TN304/32

    馆藏复本：1
    可借复本：0     李兴冀 ... 等编著
    哈尔滨工业大学出版社 2023.7
    (0) 馆藏

返回顶部