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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/17
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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中文图书2.CMOS模拟集成电路设计与仿真实例 TN432/15
馆藏复本:3
可借复本:3 陈铖颖, 杨丽琼, 王统主编
北京 2013.9
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馆藏复本:3
可借复本:3 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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馆藏复本:3
可借复本:3 陈铖颖, 杨丽琼, 王统主编
北京 2013.9
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