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检索到 7 条 分类号=TN407 的结果    

 


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  1. 中文图书1.集成电路测试原理 TN407/6

    馆藏复本：3
    可借复本：3     戴志坚，王厚军主编
    电子科技大学出版社 2023
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.可测性设计与智能故障诊断 TN407/5

    馆藏复本：3
    可借复本：3     林海军著
    机械工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界 TN407/4

    馆藏复本：3
    可借复本：3     刘斌著
    电子工业出版社 2018
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.集成电路认证:硬件木马与伪芯片检测:hardware trojans and counterfeit detection TN407/3

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (美) Mohammad Tehranipoor, Hassan Salmani, Xuehui Zhang著
    国防工业出版社 2016.11
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/1

    馆藏复本：3
    可借复本：3     蒋颂军, 何晓帆主编
    化学工业出版社 2005.3
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.现代集成电路测试技术: TN407/1

    馆藏复本：3
    可借复本：3     《现代集成电路测试技术》编写组
    化学工业出版社 2006
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.专用集成电路时序验证.影印本 TN407/2

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (美)内库加(Nekoogar,F.)著
    清华大学出版社 2009
    (0) 馆藏

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