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中文图书1.基于失效模式的电子元器件质量控制 TN6/67
馆藏复本：2
可借复本：2 李京苑主编
首都经济贸易大学出版社 2019
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中文图书2.几何量常用测量方法 TB92/5
馆藏复本：1
可借复本：1 李京苑, 陈金存, 刘大亮编著
中国宇航出版社 2018.08
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中文图书3.统计过程控制与评价:Cpk、SPC和PPM技术 F407.486/2
馆藏复本：5
可借复本：5 贾新章，李京苑编著
电子工业出版社 2004.8
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