检索到 6 条 责任者=恩云飞 的结果
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中文图书1.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/16
馆藏复本：2
可借复本：2 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2022
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中文图书2.电子微组装可靠性设计,基础篇 TN605/15
馆藏复本：3
可借复本：3 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2020
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中文图书3.电子元器件失效分析技术 TN606/15
馆藏复本：4
可借复本：4 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2015
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中文图书4.可靠性物理 TN6/48
馆藏复本：4
可借复本：4 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2015
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中文图书5.MEMS可靠性 TN4/34
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
电子工业出版社 2012.11
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中文图书6.电子元器件失效分析与典型案例: TN601/1
馆藏复本：2
可借复本：2 孔学东, 恩云飞主编
国防工业出版社 2006
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