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题名/责任者:

晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例/马秀良著

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-04-061096-3 精装/CNY149.00

载体形态项:

588页:图，照片;24cm

并列正题名:

Crystal structures and defects investigated by electron microscopy

丛编项:

材料科学与工程著作系列 HEP series in materials science and engineering

个人责任者:

马秀良 (1964-) 著

学科主题:

晶体结构-电子显微镜分析-案例

中图法分类号:

O766

一般附注:

国家科学技术学术著作出版基金资助出版

提要文摘附注:

本书以多种典型晶体结构及缺陷的分析表征实验案例为主线，包含金属和合金材料中的复杂合金相、碳化物、硼化物、硫化物、尖晶石型氧化物等晶体，介绍了电子显微学及晶体学基础知识。

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