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题名/责任者:

基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著

出版发行项:

西安:西安交通大学出版社,2017.07

ISBN及定价:

978-7-5605-9902-1/CNY42.00

载体形态项:

123页:图;24cm

丛编项:

“十三五”学术文库系列

个人责任者:

谢小军 著

学科主题:

绝缘材料-介电性质-研究

中图法分类号:

TM21

书目附注:

有书目 (第115-123页)

提要文摘附注:

本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。

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