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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
半导体物理与器件实验教程/计峰主编
出版发行项:
济南:山东大学出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-5607-6952-3/CNY26.00
载体形态项:
129页:图;26cm
并列正题名:
Experimental course of semiconductor physics and devices
个人责任者:
计峰 主编
学科主题:
半导体物理-实验
学科主题:
半导体器件-实验
中图法分类号:
O47
中图法分类号:
TN303-33
一般附注:
集成电路科学与工程类新工科系列教材
提要文摘附注:
本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两篇。半导体物理实验包括单晶硅的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型的测定、四探针法测量半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导衰减法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS管的C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。半导体器件实验包括发光二极管特性参数测量、稳压二极管特性参数测量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻的测量等十个实验。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
O47/31 S4022857   总馆—理学书库(龙湖)     新书:正在上架 理学书库(龙湖)
O47/31 S4022858   总馆—理学书库(龙湖)     新书:正在上架 理学书库(龙湖)
O47/31 S4022859   总馆—理学书库(龙湖)     新书:正在上架 理学书库(龙湖)
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