MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:27
- 题名/责任者:
- IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测/肖飞 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-111-63407-2/CNY59.00
- 载体形态项:
- 232页:图;24cm
- 个人责任者:
- 肖飞 编著
- 个人责任者:
- 刘宾礼 编著
- 个人责任者:
- 罗毅飞 编著
- 学科主题:
- 绝缘栅场效应晶体管-疲劳机理-监测
- 中图法分类号:
- TN386.2
- 题名责任附注:
- 题名页题其余编著者:刘宾礼, 罗毅飞, 黄永乐
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理,在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法,对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。
- 使用对象附注:
- 本书可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书,也可作为电力电子与电力传动专业的本科生、硕士和博士研究生,以及从事电力电子器件方面研究的师生与研究人员的参考书。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
TN386.2/7 | S3294118 | - | 总馆—工业技术书库(龙湖) | 可借 |
TN386.2/7 | S3294119 | - | 总馆—工业技术书库(龙湖) | 可借 |
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