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题名/责任者:

空间单粒子效应:影响航天电子系统的危险因素/(美)Edward Petersen著 韩郑生[等]译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-121-28197-6/CNY79.00

载体形态项:

11,303页:图;26cm

并列正题名:

Single event effects in aerospace

其它题名:

影响航天电子系统的危险因素

丛编项:

国防电子信息技术丛书

个人责任者:

(美) 彼得森 (Petersen, Edward) 著

个人次要责任者:

韩郑生 译

学科主题:

单粒子态

中图法分类号:

O571.2

题名责任附注:

译者还有：沈自才，丁义刚，赵发展

版本附注:

由美国John Wiley & Sons, Inc.公司授权出版

提要文摘附注:

本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

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