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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:9

题名/责任者:
芯片封装与测试/关赫, 龙绪明, 李锋编著
出版发行项:
西安:西北工业大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-5612-8211-3/CNY39.00
载体形态项:
130页:图;26cm
个人责任者:
关赫 编著
个人责任者:
龙绪明 编著
个人责任者:
李锋 编著
学科主题:
集成芯片-封装工艺-高等学校-教材
学科主题:
集成芯片-测试-高等学校-教材
中图法分类号:
TN43
书目附注:
有书目 (第130页)
提要文摘附注:
本书全面介绍了集成电路芯片的封装工艺, 内容包括集成电路芯片封装概述、封装材料、封装工艺流程、印制电路板、元器件与电路板的接合、先进的微电子封装技术、封装的设计方法 (电气设计、热设计、机械设计等)、封装的可靠性及可靠性衡量、封装的失效及失效分析等。
使用对象附注:
高等学校规划教材
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN43/20 S3913629   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN43/20 S3913630   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN43/20 S3913631   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN43/20 S3843681   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
TN43/20 S3843682   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
TN43/20 S3843683   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
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