MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- 一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析/张晶威编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022.01
- ISBN及定价:
- 978-7-302-58923-5/CNY39.00
- 载体形态项:
- 127页:图;24cm
- 其它题名:
- 高速电路研发与设计典型故障案例解析
- 个人责任者:
- 张晶威 编著
- 学科主题:
- 印刷电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN410.2
- 责任者附注:
- 张晶威, 主要从事云平台、边缘计算、异构计算系统设计工作。
- 提要文摘附注:
- 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN410.2/207 | S3832026 | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 | 工业技术书库（龙湖） | |
| TN410.2/207 | S3832027 | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 | 工业技术书库（龙湖） | |
| TN410.2/207 | S3832028 | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 | 工业技术书库（龙湖） | |
| TN410.2/207 | S3491336 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | 自然书库（凤阳） | |
| TN410.2/207 | S3491337 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | 自然书库（凤阳） | |
| TN410.2/207 | S3491338 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | 自然书库（凤阳） |
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