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题名/责任者:

SOC/ASIC设计、验证和测试方法学/沈理编著

出版发行项:

广州:中山大学出版社,2006

ISBN及定价:

7-306-02682-8/CNY35.00

载体形态项:

260页:图;23cm

并列正题名:

SOC/ASIC design, verification and test methodology

个人责任者:

沈理, 1937- 编著

学科主题:

半导体集成电路-芯片-设计

中图法分类号:

TN43

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书阐述设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模集成电路芯片（ASIC）的设计。

使用对象附注:

IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。

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