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题名/责任者:

CEI测量技术原理、系统设计与应用/黄磊[等]著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-302-66067-5 精装/CNY99.00

载体形态项:

169页:图;25cm

并列正题名:

Principle, system design and application of CEI measurement technology

丛编项:

中国航天科技前沿出版工程.中国航天空间信息技术系列

个人责任者:

黄磊 著

个人责任者:

刘友永 著

个人责任者:

陈少伍 著

学科主题:

干涉测量法

中图法分类号:

O4

题名责任附注:

著者还有：刘友永、陈少伍、孟玮

提要文摘附注:

本书重点介绍了CEI测量技术的基本原理，CEI测量系统的设计构建，实现CEI测量所突破的关键技术，以及CEI测量技术的工程应用实例，内容丰富全面，理论与实践并重。

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