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- 题名/责任者:
- 集成电路电源完整性分析与管理/(美) 拉贾德·奈尔, 唐纳德·贝内特主编
- 出版发行项:
- :北京,2013.11
- ISBN及定价:
- 978-7-121-21804-0/CNY58.00
- 中图法分类号:
- TN86
- 提要文摘附注:
- 本书全面论述了电源完整性问题, 特别是在纳米级工艺下对系统芯片的电源完整性分析与管理技术。书中从电源完整性的基本概念和各个物理参数的直观理解入手, 通过与力学系统及其相关理论的类比, 分析了电源完整性在导致集成电路性能差异方面呈现上升趋势的根本原因, 并讨论了随着日益缩小的工艺线宽, 电路设计工程师在电源完整性问题上所遇到的种种挑战, 以及为解决这些问题所引入的先进的分析方法、管理技术以及在设计前期阶段具有突破性的实用工具。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN86/73 | S2351405 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN86/73 | S2351406 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN86/73 | S2351407 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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