MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 半导体物理与测试分析/主编谭昌龙
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2012.8
- ISBN及定价:
- 978-7-5603-3648-0/CNY20.00
- 载体形态项:
- 152页:图;26cm
- 丛编项:
- 电子与通信工程系列
- 个人责任者:
- 谭昌龙 主编
- 学科主题:
- 半导体物理学-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- O47
- 一般附注:
- “十二五”国家重点图书出版规划项目
- 书目附注:
- 有书目 (第151-152页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容包括: 半导体的基本性质 ; 半导体中杂质和缺陷能级, 以及硅中位错和层错的观察 ; 平衡态半导体中载流子的统计分面等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| O47/16 | S2091286 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| O47/16 | S2301207 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| O47/16 | S2301208 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| O47/13 | S2334514 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| O47/13 | S2334515 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| O47/13 | S2334516 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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