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- 题名/责任者:
- 机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理研究/郁大照等著
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-3996-2/CNY59.00
- 载体形态项:
- 137页:图;24cm
- 个人责任者:
- 郁大照 著
- 个人责任者:
- 王希彬 著
- 个人责任者:
- 王琳 著
- 学科主题:
- 航空电气设备-电子元器件-海洋环境-腐蚀机理-研究
- 中图法分类号:
- V242
- 题名责任附注:
- 著者还有：王希彬、王琳、胡家林、刘琦
- 提要文摘附注:
- 本书对机载典型电子元 器件热带海洋环境腐蚀行为 与机理进行了较为系统的研究，主要内容包括概述、机载典型电子元器件故障分析、机载典型电子元器件腐蚀加速试验方法、机载典型电子元器件热带海洋环境对比试验、机载电子元器件腐蚀仿真分析、外部防护产品的防腐效应试验与效果分析及机载电子元器件腐蚀防护策略等内容。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| V242/6 | S3781300 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 | |
| V242/6 | S3781301 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 | |
| V242/6 | S3781302 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 |
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