MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 纳米数字集成电路老化效应:分析、预测及优化/靳松, 韩银和著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2012.6
- ISBN及定价:
- 978-7-302-28543-4/CNY21.00
- 载体形态项:
- 108页:图;23cm
- 其它题名:
- 分析、预测及优化
- 个人责任者:
- 韩银和 著
- 个人责任者:
- 靳松 著
- 学科主题:
- 纳米材料-数字集成电路-老化-研究
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 书目附注:
- 有书目 (第100-108页)
- 提要文摘附注:
- 本书的主要内容涉及一种公认的纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性 (NBTI)。介绍了NBTI效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响。从提高nbti效应影响下电路可靠性的角度, 论述了相应的硅前分析、在线预测和优化方法。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/20 | S2198652 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN431.2/20 | S2198653 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN431.2/20 | S2198654 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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