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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:4

题名/责任者:
UVM芯片验证技术案例集/马骁编著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-302-65854-2/CNY119.00
载体形态项:
20,424页:图;24cm
丛编项:
计算机技术开发与应用丛书
个人责任者:
马骁 编著
学科主题:
芯片-验证
中图法分类号:
TN43
责任者附注:
马骁,东南大学集成电路专业硕士,已申请芯片验证领域多个专利,网易云课堂“芯片验证:UVM理论与实战”“芯片验证:Python脚本理论与实战”等课程的作者。
提要文摘附注:
本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书,包括对多种实际问题场景下的解决专题,推荐作为UVM的进阶教材进行学习。不同于带领读者学习UVM的基础用法,本书分为多个专题,每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题,相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤,实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景,解决的思路、基本原理、步骤,并给出了示例代码供参考。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN43/28 S4020819   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN43/28 S4020820   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN43/28 S4036727   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
TN43/28 S4036728   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
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