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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:1

题名/责任者:
纳米计量基础与应用/施玉书, 陈鹰等著
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2024.7
ISBN及定价:
978-7-122-41768-8/CNY98.00
载体形态项:
163页:图 (部分彩图);26cm
并列正题名:
Fundamentals and applications of nanometering
个人责任者:
施玉书
个人责任者:
陈鹰
个人责任者:
王琛英
学科主题:
纳米技术-应用-计量-研究
中图法分类号:
TB9
责任者附注:
本书著者人员名单: 施玉书, 陈鹰, 王琛英, 张树, 郝玉红等
责任者附注:
施玉书, 研究员, 中国计量科学研究院纳米计量研究室主任, 微纳计量及应用技术研究团队带头人, 博士毕业于天津大学。陈鹰, 正高级工程师, 现任职于上海市计量测试技术研究院材料科学与质量检测中心。1997年毕业于复旦大学化学系, 曾先后在上海市计量测试技术研究院气体室、Intertek检验认证集团、上海市计量测试技术研究院理化分析室从事材料领域的计量测试方法研究与理化分析检测工作。
书目附注:
有书目 (第158-163页)
提要文摘附注:
本书以纳米计量为主线, 主要包括技术和应用两部分内容。技术部分, 主要介绍纳米计量的基本内容以及涉及到的纳米检测技术; 应用部分, 主要选取纳米计量在先进制造产业、生物医药产业、微电子与集成电路产业的典型应用进行介绍。纳米计量作为一门小众学科, 本书通过对纳米计量的基本内容与应用进行介绍得以传承计量文化, 普及计量知识, 使读者对纳米计量这一基础研究有所了解, 对我国纳米计量体系有一个系统、准确的认识。
使用对象附注:
本书不仅适合纳米计量相关的工程应用人员参考, 也可供高等学校仪器科学与技术专业及相关专业师生参阅
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TB9/39 S4002556   总馆—采编室     在编 采编室
TB9/39 S4002557   总馆—采编室     在编 采编室
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