MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- LabVIEW与天线测量技术/马玉丰[等]编著
- 出版发行项:
- 西安:西安电子科技大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5606-6841-3/CNY49.00
- 载体形态项:
- 256页:图;26cm
- 丛编项:
- 天线测试技术丛书
- 个人责任者:
- 马玉丰 编著
- 学科主题:
- 软件工具-程序设计
- 学科主题:
- 微波天线-测量技术
- 非控制主题词:
- LabVIEW
- 中图法分类号:
- TP311.561
- 中图法分类号:
- TN822
- 题名责任附注:
- 编著还有：刘灵鸽、张启涛、王宇
- 提要文摘附注:
- 本书分15章，内容包括：认识LabVIEW、数据格式、循环与事件结构、画图与显示、VI显示设置与美化、程序代码的保护、天线测试参数基本知识等。
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