MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 现代集成电路测试技术/《现代集成电路测试技术》编写组
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-5025-8131-6/CNY95.00
- 载体形态项:
- 540页:图;26cm
- 个人责任者:
- 《现代集成电路测试技术》编写组
- 团体责任者:
- 现代集成电路测试技术编写组 编
- 学科主题:
- 集成电路-测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书接集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下两篇，根据现代集成电路测试技术发燕尾服和专业测试需求进行介绍。
- 使用对象附注:
- 从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN407/1 | S566982 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN407/1 | S566983 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN407/1 | S566984 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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