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题名/责任者:

透射电子显微学.下册/D.B. 威廉斯(David B. Williams), C.B. 卡特(C. Barry Carter)著 李建奇等译

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-04-052413-0 精装/CNY129.00

载体形态项:

[48], 649页, [30] 页图版:图 (部分彩图);25cm

统一题名:

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science

丛编项:

材料科学经典著作选译

个人责任者:

威廉斯 (Williams, David B.) 著

个人责任者:

卡特 (Carter, C. Barry) 著

个人次要责任者:

李建奇 译

学科主题:

透射电子显微术-高等学校-教材

中图法分类号:

O766

中图法分类号:

O7

版本附注:

译自原书第2版

责任者附注:

责任者Williams规范汉译姓: 威廉斯; 责任者Carter规范汉译姓: 卡特

责任者附注:

李建奇, 中国科学院物理研究所研究员, 博士生导师。

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书介绍了成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术, 以及对实验图像的处理、分析和理论模拟, 还介绍了X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用, 以及与之相关的各种实验技术。

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