MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析与典型案例/孔学东, 恩云飞主编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-118-04619-1/CNY150.00
- 载体形态项:
- 260页:图;26cm
- 个人责任者:
- 孔学东 主编
- 个人责任者:
- 恩云飞 主编
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 中图法分类号:
- TN601
- 提要文摘附注:
- 本书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件等。
- 使用对象附注:
- 失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产单位的工程技术人员，高等学校半导体器件专业师生
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN601/1 | S566980 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN601/1 | S566981 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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